納米掃描探針顯微鏡工作模式：

標準工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線測試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模式：導電原子力顯微鏡 （C-AFM），磁力顯微鏡（MFM），靜電力顯微鏡（EFM）,掃描電勢顯微鏡（SKPM），壓電力顯微鏡模式(PFM Mode)，液相模式 (Liquid Mode)

AFMWorkshop是專門從事設計和制造原子力顯微鏡的專業化公司 。公司創始人是有30年原子力顯微鏡經驗的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

納米掃描探針顯微鏡技術參數

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍：17 μm，7 μm

XY方向驅動分辨率：0.01 nm

Z方向驅動分辨率：0.03 nm

Z方向測量噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm